25 ноября в Москве прошла конференция посвященная современным измерительным и информационным технологиям для построения автоматизированных систем тестирования, управления и мониторинга.
Инженеры компании National Instruments и альянс-партнеры рассказали о современных технологиях и новинках модульных приборов 2016 года, а также лучших решениях и самых интересных реализованных задачах.
Компания ВиТэк принимала участие в данной выставке. Как итог, нашему директору был вручен диплом за вклад в развитие инженерного сообщества.